Nikon N - SIM E 超解析顯微鏡

Nikon N - SIM E 運用結構式照明成像技術，突破一般光學極限，水平軸的解析度達 115nm，垂直軸的解析度達 269nm，解析力提升約 2 倍，讓光學顯微鏡觀察範圍推向分子層級，開啟科學研究的新視野。此系統更為精簡且經濟實惠，支援常用的激發波長和基本成像模式，是個人實驗室的最佳選擇。

優於傳統光學顯微鏡的分辨率

利用結構式照明顯微技術(Structured Illumination)，並搭配 Nikon 開發之特殊演算法，運用莫爾條紋 Moiré pattern 干涉原理，將來自兩種不同方向的空間頻率重疊；透過傅立葉轉換運算公式，讓原本損失無法觀察的細節還原，進而得到約傳統光學系統 2 倍的解析力影像資訊。

時間解析度可達每秒1張

N - SIM E 實現高速超高解析圖像擷取，時間分辨率約 1 秒 / 幅，因此可有效進行活體細胞觀察實驗。

3D-SIM模式 - Z軸高解析成像技術

可使用 Slice 3D - SIM(標配)與 Stack 3D - SIM(選購)這兩種方法建構Z軸影像。

雷射多色超高解析度成像

N - SIM E 專用精簡型 LU - N3 - SIM 雷射基座，安裝最常用的 3 組雷射（ 488 / 561 / 640），可進行多色超高分辨率成像。